MATERIAUX / ANALYSE DE DEFAILLANCES
La grande profondeur de champ, la gamme étendue de grossissements et la détermination de la composition élémentaire font de la microscopie électronique à balayage un outil de choix pour l'identification des causes de défaillances (corrosion, rupture, coloration ou encore défauts de surface - rayures, trous, etc…).
CARACTERISATION DE MATERIAUX
Nos méthodes d'analyse permettent de déterminer, d'une part, la composition élémentaire d'un matériau et, d'autre part, les dimensions d'objets microscopiques. De plus, notre microscope, équipé du logiciel MEX, est capable de reconstruire une surface en trois dimensions.
ANALYSE DE SURFACE
En complément à la microscopie électronique à balayage, les analyses de surface peuvent être effectuées par d'autres méthodes telles que le SIMS, le TOF-SIMS, XPS ou AUGER. Ces techniques permettent d'avoir des informations sur les premières couches atomiques d'une surface.