MATERIALIEN / DEFEKTANALYSE
Die große Tiefenschärfe, das breite Vergrößerungsspektrum und die Bestimmung der elementaren Zusammensetzung ermöglichen es schnell und auf einfache Weise Erkenntnisse über die Defekte (Korrosion, Bruch, Verfärbung oder Oberflächendefekte - Kratzer, Löcher, usw.) zu erkennen.
CHARAKTERISIERUNG DER MATERIALIEN
Unsere Analysemethoden erlauben es die elementare Zusammensetzung eines Materials und die Grösse von winzigen Objekten zu bestimmen. Dazu ist unser Mikroskop mit der MeX Software ausgerüstet, um 3D-Oberflächenmessungen durchzuführen.
OBERFLÄCHENANALYSE
Zur Ergänzung der Rasterelektronmikroskopie können Oberflächenanalysen auch mit anderen Methoden durchgeführt werden, sowie SIMS, TOF-SIMS, XPS oder AUGER. Diese Techniken liefern zusätzliche Informationen über die ersten Atomarenschichten einer Oberfläche.
